一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质

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一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质
申请号:CN202510131413
申请日期:2025-02-06
公开号:CN119579590B
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质,涉及图像处理技术领域。其中,方法包括:获取未染色大米的外表面图像,所述外表面图像包括正面图像和/或其它表面图像;利用图像分割算法,对所述外表面图像中的种皮区域、胚乳区域和大米完整区域进行分割;利用所述种皮区域、胚乳区域和大米完整区域的面积,确定大米加工精度。本实施例提出一种无需染色的大米加工精度检测方法。
技术关键词
精度检测方法 大米 图像分割算法 正面 染色 电子设备 特征点 图像处理技术 纹理结构 长轴 处理器 短轴 颜色 可读存储介质 程序 轮廓 坐标 直线
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