用于估计存储器装置的使用寿命的建模方法、计算存储器装置的剩余使用寿命的方法以及计算系统

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用于估计存储器装置的使用寿命的建模方法、计算存储器装置的剩余使用寿命的方法以及计算系统
申请号:CN202510136256
申请日期:2025-02-07
公开号:CN120448230A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
公开了用于估计存储器装置的使用寿命的建模方法、计算存储器装置的剩余使用寿命的方法以及计算系统。在用于估计存储器装置的使用寿命的一个示例建模方法中,基于对多个未使用的存储器装置执行加速老化测试来获得与所述多个未使用的存储器装置的多个性能相关联的多个性能测量数据。基于对所述多个性能测量数据执行统计分布近似来计算多个统计数据。基于与所述多个性能相关联的多个样本性能数据和所述多个统计数据来计算多个条件概率。基于所述多个条件概率训练寿命计算模型。寿命计算模型输出估计的使用寿命数据和不确定性数据。估计的使用寿命数据与所述多个样本性能数据对应。不确定性数据表示估计的使用寿命数据的不确定性。
技术关键词
存储器装置 加速老化测试 建模方法 剩余使用寿命 数据 可靠性测试设备 样本 存储器封装件 存储程序代码 存储器电路 存储器芯片 处理器 闪存装置 校正 计算机 介质
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