一种瓷绝缘子绝缘磁体缺陷检测方法及系统

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一种瓷绝缘子绝缘磁体缺陷检测方法及系统
申请号:CN202510139011
申请日期:2025-02-08
公开号:CN120013919A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种瓷绝缘子绝缘磁体缺陷检测方法及系统,包括通过高速摄像机获取若干组旋转状态下的绝缘子磁体图像;其中,若干组所述图像连续,且相邻的两组图片存在重叠区域;对若干组所述图像分别进行初步缺陷识别,将初步缺陷识别后的若干组所述图像进行融合,得到所述绝缘子磁体缺陷的初步位置;基于绝缘子磁体缺陷的初步位置进行检测,确定绝缘子磁体的所有缺陷,本发明可以精准确定绝缘子的缺陷区域,基于缺陷区域在绝缘子磁体边缘时绝缘子磁体边缘曲线的特征类型,确定绝缘子磁体缺陷检测的结果,有利于提高绝缘子磁体缺陷检测的精度。
技术关键词
磁体 瓷绝缘子 缺陷检测方法 缺陷检测算法 高速摄像机 缺陷检测系统 图像特征信息 识别模块 曲线 图片 轮廓 像素点 数据 亮度 光源
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