信号测试电路、测试芯片及测试装置

本申请公开了信号测试电路、测试芯片及测试装置，涉及装置信号测试技术领域，公开的信号测试电路，包括：多个信号反馈端接入待测装置，以接入待测装置输出的数据信号；多个比较器，其中一个比较器的正相输入端用于接入一信号反馈端，反相输入端用于接入一参考信号；其余比较器的正相输入端分别接入一参考信号，反相输入端分别接入一信号反馈端；多个时间数字转换器，每一时间数字转换器的输入端与一比较器的输出端连接，每一时间数字转换器用于将根据对应的比较器输出的脉冲信号转换为数字信号。本申请实现在不同参考电压下进行测试，提高了测试效率，且无需单独调整测试芯片的输出参考电压，简化了测试过程。