一种电容缺陷检测系统、检测方法、控制器和存储介质

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一种电容缺陷检测系统、检测方法、控制器和存储介质
申请号:CN202510145796
申请日期:2025-02-10
公开号:CN120161049A
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种电容缺陷检测系统、检测方法、控制器和存储介质,电容缺陷检测系统包括光学检测设备,用于对待测电容拍摄图片,得到与待测电容对应的待测图片;自动检测装置,包括图片裁剪屏蔽模块、分析模块和标记模块,图片裁剪屏蔽模块用于对待测图片进行裁剪屏蔽处理,分析模块用于基于预设的深度学习模型对经裁剪屏蔽处理的待测图片进行分析对比处理,检测出不符合生产要求的待测图片,标记模块用于对不符合生产要求的待测图片进行标记处理得到地图;拆板机,用于根据地图将不符合生产要求的待测图片对应的不符合生产要求的待测电容自动拆除。本申请提高电容缺陷检测的准确率和自动化程度,提高电容产品的出品质量和用户体验感。
技术关键词
电容缺陷检测 待测图片 屏蔽模块 分析模块 自动检测装置 深度学习模型 待测电容 报警装置 光学检测设备 制造执行系统 计算机可执行指令 地图 显示灯 标记 蜂鸣器 板机 滤光片 深度学习算法
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