基于多阶段贝叶斯优化的模拟集成电路测试激励生成方法

本发明公开了一种基于多阶段贝叶斯优化的模拟集成电路测试激励生成方法，对待测模拟集成电路进行缺陷建模得到缺陷仿真模拟集成电路，然后根据待测模拟集成电路的激励源设置搜索空间并离散化，在搜索空间中采样得到初始点，然后采用多阶段贝叶斯优化搜索测试激励集，在搜索时将初始点的可检测故障集合的合集作为组合故障检测集合，将组合故障检测数量作为每个初始点的目标函数，构成初始的历史激励集，再通过多轮贝叶斯优化搜索得到模拟集成电路所需的测试激励集。本发明利用贝叶斯优化的特性，设计多阶段贝叶斯优化算法，提高测试激励的搜索效率，降低仿真时间，提高模拟集成电路测试激励的生成效率。