芯片仿真模型的测试方法及系统

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片仿真模型的测试方法及系统。所述方法包括以下步骤：采集目标芯片仿真模型并进行时序补偿以生成抖动补偿数据，随后进行眼图重构以获取波形眼图数据，对波形数据进行幅度归一化和时序相位校正，得到净化对齐数据，通过正交映射处理和模态投影分析生成主模态数据，构建核空间数据并进行流形认知聚合以生成测试覆盖特征，对这些特征进行边界解析和密度分布分析，得到聚类边界数据，最后调优边界精度并执行自适应测试序列，生成测试用例结果。本发明实现了更高效的芯片仿真模型测试方法。