基于MT6877平台的芯片测试方法、电子设备、介质

本发明公开了一种基于MT6877平台的芯片测试方法、电子设备、介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：获取MT6877平台；根据LPDDR5芯片的布局，设计转接板；将线路走线的测试点引出至转接板的表面，并与对应的测试焊盘连接；将转接板焊接在安装区域，使底面焊盘与连接点连接；在转接板上设置限位装置；将LPDDR5芯片放置在限位孔内；在限位装置上放置压紧装置，通过压紧装置压住LPDDR5芯片，使LPDDR5芯片与表面焊盘连接；MT6877平台通过转接板对LPDDR5芯片进行测试，获得测试结果；将测试焊盘与示波器连接，通过示波器展示测试波形。该方法可以使得LPDDR5芯片的安装与拆卸更加便捷。