Mock测试方法、装置、电子设备及存储介质

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Mock测试方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202510160066
申请日期:2025-02-13
公开号:CN120086136A
公开日期:2025-06-03
类型:发明专利
摘要
本发明涉及网络技术数据处理领域,揭露一种Mock测试方法,包括:接收客户端发送的Mock测试请求,获取Mock测试请求包含的请求路径和请求数据;将请求数据转换成预设格式的测试数据,根据请求路径调用预设的Mock生成器和和Mock判别器,利用Mock生成器对测试数据执行处理,得到Mock响应数据,Mock生成器和Mock判别器是根据历史mock测试数据和历史测试结果训练得到的;利用Mock判别器计算Mock响应数据和请求数据之间的匹配度值,若匹配度值大于预设阈值,则将Mock响应数据返回客户端。本发明利用Mock生成器生成Mock响应数据,及利用Mock判别器判断Mock响应数据与请求数据是否匹配,可以减少开发人员手动编写Mock规则和提高Mock测试的准确性。
技术关键词
Mock测试方法 深度学习模型 数据处理程序 客户端 业务逻辑模型 格式 生成对抗网络 电子设备 可读存储介质 参数 处理器通信 网络技术 层级 嵌套 接口 存储器 计算机
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