基于散射参数变化的射频探针全自动调控方法及系统

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基于散射参数变化的射频探针全自动调控方法及系统
申请号:CN202510165186
申请日期:2025-02-14
公开号:CN119986321B
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于散射参数变化的射频探针全自动调控方法及系统,包括:在探针相对晶圆电极触板移动对准的过程中,实时获取GSG三个触点相对三个接触垫片的散射参数;根据散射参数的极坐标图位置执行探针的调平操作,包括:根据散射参数的极坐标图位置调控GSG三个触点连线与电极触板所在平面的夹角θ,使GSG三个触点连线与电极触板所在平面平行;根据散射参数的实部值变化执行探针的三维位置的对准操作,包括:根据散射参数的实部值变化调控GSG三个触点相对三个接触垫片的XYZ轴的位置,使GSG三个触点分别与三个接触垫片接触。本发明实现了探针在X、Y、Z和θ四个方向上的自动精细调控,以提高对准精度、可重复性和测量准确性。
技术关键词
接触垫片 射频探针 触板 矢量网络分析仪 全自动调控系统 调控方法 参数 触点 电极 旋转角度微调 位置控制系统 非线性最小二乘算法 距离控制 连线 显微镜 晶圆卡盘 指令 校准设备
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