适配于功率半导体器件设计的使用寿命智能评估系统

本发明属于半导体寿命评估领域，涉及数据分析技术，用于解决现有技术无法根据不同类型半导体器件的寿命测试结果进行特征分析，并结合特征分析结果对样品抽取、重点测试参数等环节进行优化的问题，具体是适配于功率半导体器件设计的使用寿命智能评估系统，包括抽样分析模块、均衡评估模块、倾向评估模块以及评估分析模块；抽样分析模块与均衡评估模块、倾向评估模块均通信连接，评估分析模块与均衡评估模块、倾向评估模块均通信连接；本发明可以对功率半导体器件的评估样品进行抽取，根据不同器件类型在评估周期内的评估测试结果对其评估模式进行标记，从而在下一评估周期内可以对加速模型进行合理化分配。