基于二值条纹调制度的结构照明测量系统及方法

本发明公开了基于二值条纹调制度的结构照明测量系统及方法，该系统包括：位移台；投影装置，用于投射两张互补二值条纹图像；成像装置，用于采集被测物体反射后的条纹图像；同轴光路装置，用于将投影装置投射的两张互补二值条纹图像照射至位移台的被测物体上，以及将位移台上的被测物体反射的条纹图像反射至成像装置；图像处理单元，用于接收成像装置采集的条纹图像，并将条纹图像处理为调制度图像；根据调制度图像中的像素灰度值绘制调制度‑扫描位置响应曲线；获取像素相对高度，并根据像素相对高度测量得到被测物体的表面三维形貌信息。本发明可解决传统结构照明测量技术效率低的问题，实现基于结构照明的高效测量。