一种MCU参数测试系统与测试方法

本公开涉及MCU服务技术领域，公开了一种MCU参数测试系统与测试方法，其中：ATE测试平台，采用PPMU模块，向待测MCU中的ADC模块提供模拟输入信号，获取ADC模块的实际输出信号，将实际输出信号与理论预期输出比对，确定ADC模块的性能是否符合预设标准；ATE测试平台，当待测MCU中的振荡器的测试值偏离预设目标值时，采用修调功能模块，根据全搜索算法查询匹配预设目标值的最佳修调码，采用最佳修调码修正振荡器的参数。本公开实施例提供的系统通过ATE测试平台中的各模块，实现对MCU多个参数的自动化测试，减少人工干预，提高测试效率。采用PPMU模块提供的模拟电压信号，确保对MCU各高集成度的功能模块的精准测试，提高测试准确性。