射频信号并行测试电路及方法

本发明关于射频信号并行测试电路及方法，涉及射频芯片领域。通过测试机为MCU芯片提供3.3V电源，使其P6端发送1KHz波形至无线信号发射器的DI端，再给无线信号发射器供电以发射1KHz无线电信号，并验证其发射功能；通过控制继电器连接射频芯片与无线信号发射器，测试接收功能是否正常；测量5V电源下的驱动电流，完成输出端测试；通过将射频芯片的SHUT端设置为5V高电平，确保芯片处于非工作状态并测量此时的高阻态电流。在此情况下，能够剔除无线信号发生、接收功能不良的芯片，避免测试设备的误差对测试结果造成无法消除的影响，保证测试数据的准确性与可靠性，缩短测试时间，提高生产效率。