一种测试装置

本实用新型公开了一种测试装置，包括：测试板；设置在测试板上的主控制器；设置在测试板上的存储器模块，存储器模块包括SRAM模块、NOR FLASH模块、NAND FLASH模块及PC CARD模块；分别和各存储器模块相连接的多个读写接口；其中，主控制器用于和目标MCU芯片通讯连接，以向目标MCU芯片发送测试指令；各个存储器模块用于通过各读写接口与目标MCU芯片中待测FSMC模块的各个待测读写接口相连接，并接收待测FSMC模块的读写操作。本申请针对FSMC模块的读写功能配置多个不同的存储器模块，进而模拟FSMC模块读写操作流程，实现读写功能测试，有效降低MCU芯片设计的时间成本和测试成本。