一种锁相环频率合成器的LabVIEW测试方法

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一种锁相环频率合成器的LabVIEW测试方法
申请号:CN202510189531
申请日期:2025-02-20
公开号:CN120128278A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明属于锁相环频率合成器测试技术领域,特别涉及一种锁相环频率合成器的LabVIEW测试方法。包括如下步骤:对宽频带频率合成器进行上电初始化,确保总线上连接有待测件、FSWP频谱仪和信号源;对FSWP频谱仪进行复位,清除之前的界面设置,设置供电电压并打开;设置信号源频率;设置信号源幅度;打开信号源输出,将设置好的频率和幅度输出给锁相环频率合成器参考输入端;启动寄存器配置模块,将112个24位寄存器值通过串口按顺序透传给SPI,SPI发送给锁相环频率合成器;读取FSWP频谱仪上偏移10KHz和100KHz点相位噪声数据和频率。本发明实现对锁相环芯片的品质因数和标准闪烁噪声参数进行自动测量、自动计算、数据保存和优劣判断。
技术关键词
锁相环频率合成器 频谱仪 测试方法 信号源 闪烁噪声 品质因数 噪声数据 锁相环芯片 时钟缓冲器 宽频带 测试接口 测试夹具 参数 单片机 模块 管脚 输入接口 界面
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