一种针对JESD204B接口ADC的ATE测试方法

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一种针对JESD204B接口ADC的ATE测试方法
申请号:CN202411939902
申请日期:2024-12-26
公开号:CN120029833A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种针对JESD204B接口ADC的ATE测试方法,本发明方法包括:时钟树设计、测试数据传输与采集方案设计、测试板与ATE交互方案设计、ATE对获取的数据进行处理。本发明采用板载时钟与外接时钟相结合的时钟树设计方案,具有高度灵活性;通过测试板上FPGA接收ADC采样数据,然后再传送给ATE,实现测试数据的高效采集;同时通过ATE发送控制信号和时钟信号进行FPGA传输数据的控制,实现对不同ADC核心采样数据的区分,并为FPGA与ATE数据传输提供参考时钟;最后通过ATE对数据进行处理分析。通过本发明方法,可以高效完成对JESD204B接口ADC测试数据的采集,进而完成对ADC的动、静态参数测试,提高测试效率,降低测试时间,满足ATE测试需求。
技术关键词
测试方法 信号源 芯片 时钟树 数据 接口 参数 核心 时序 解码 动态 速率 基准 编码
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