一种芯片测试的异常追溯方法、系统、计算机设备及存储介质

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试的异常追溯方法、系统、计算机设备及存储介质，通过将录入的测试时所在Site位置对应的测试插座的编码信息与预先扫码确定的所述测试插座的编码信息进行比对，可及时判断是否存在不一致的情况，以避免手动录入错误，有利于在芯片出现测试异常时准确定位对应的测试插座，以准确进行异常分析或异常澄清，适于大范围推广应用。