电池监控芯片热插拔测试方法、系统、设备及存储介质

本发明提供了一种电池监控芯片热插拔测试方法、系统、设备及存储介质，一电池监控芯片对应多个测试开关；该方法包括：采用至少一种模式：第一模式进行热插拔测试；每种模式热插拔测试包括：按照对应模式进行热插拔上电；第一模式下的热插拔上电包括：前N个先上电的测试开关按照所有可能的枚举顺序依次完成，剩余的测试开关按照预设的上电顺序依次完成闭合；其中，N为正整数，且N≤M；热插拔上电完成后，采集电池监控芯片的工作数据；根据工作数据判断电池监控芯片是否损坏；进行热插拔下电。本发明的技术方案，通过第一模式可以搜索最容易损坏芯片的上电顺序组合，且测试次数可行，节省了测试时间和测试成本，给出了有效且可行的测试方案。