用于芯片测试的分选控制方法及装置

本发明公开了用于芯片测试的分选控制方法及装置，涉及物品分选技术领域，包括：设置用于芯片测试的载具；将多个待测芯片放置载具上的多个测试位，每个待测芯片的引脚包括扫描寄存器和测试访问端口；连接芯片测试系统，读取多个待测芯片对应的测试脚本；根据测试脚本控制边界扫描测试仪进行边界扫描测试，输出芯片响应数据；对芯片响应数据进行分析，识别异常芯片以及异常芯片的测试位，按照异常芯片的测试位控制分选机构进行异常分选。本发明解决现有技术存在分选速度慢、分选线路规划不合理，芯片测试和分选控制的结合度不够紧密的技术问题，达到提高分选速度、合理规划分选线，以及提高芯片测试和分选控制结合度的技术效果。