基于深度学习的随机两步倾斜移相波前检测方法

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基于深度学习的随机两步倾斜移相波前检测方法
申请号:CN202510217973
申请日期:2025-02-26
公开号:CN120141666A
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于深度学习的随机两步倾斜移相波前检测方法,解决现有技术对测量环境要求苛刻和测量误差大的问题。该方法包括:仿真模拟得到两个干涉图数据库;建立神经网络模型,并将干涉图数据库分为训练集和测试集;将训练集输入该神经网络模型中进行训练,得到训练后的神经网络模型;将测试集输入训练后的神经网络模型中进行测试,并输出波前相位计算值;计算波前相位计算值与波前相位模拟值之间的误差,直至得到新的神经网络模型;获取多帧待测光学元件的干涉条纹图,将其输入新的神经网络模型中,并输出待测光学元件的真实波前相位,从而实现基于深度学习的随机两步倾斜移相波前检测。该方法操作简单且测量精度较高。
技术关键词
干涉条纹 光学元件 分光棱镜 成像探测器 建立神经网络模型 扩束镜头 训练集 变频激光器 解码器 编码器 表达式 准直系统 光强 像素 误差 模块 背景光
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