固态硬盘的SOC芯片DFT功能的测试方法及装置

本发明公开了固态硬盘的SOC芯片DFT功能的测试方法及装置，方法包括：获取生成的ROM文件，所述ROM文件包括各时间点管脚激励和激励期望值；FPGA主板根据生成的ROM文件使芯片产品板上承载的固态硬盘的SOC芯片产生激励实际值；对比产生的激励实际值与激励期望值；记录对比结果。通过借助FPGA主板读取ROM文件并依此生成DFT激励信号，能精准模拟复杂测试场景，配合FPGA内部信号捕获模块按预设采样频率和时序采集实际值，使得对固态硬盘的SOC芯片的测试高效且精准，可全面检测芯片在各种激励下的响应情况。而且FPGA主板能迅速记录所有不一致时间点及对应信号数据并发送给测试主机，便于后续快速定位问题，大幅缩短ATE调试进程，节省了时间与成本，提高了芯片生产效率。