基于Jenkins的芯片回归测试方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种基于Jenkins的芯片回归测试方法、电子设备和介质，方法包括：S1、获取基础配置信息；S2、对基础配置信息进行校验，若检验通过，则执行S3，否则，生成对应的提示信息，结束流程；S3、将基础配置信息转换为Jenkins平台对应的环境变量；S4、Jenkins平台基于环境变量中的项目标识、用户标识以及预设测试用例重构信息的生成待测芯片设计对应的芯片测试用例；S5、Jenkins平台基于环境变量中的代码仓标识获取对应的待测芯片设计代码，基于测试命令将待测芯片设计对应的芯片测试用例在待测芯片设计代码上自动进行芯片回归测试。本发明提高了芯片回归测试效率和准确性。