自动化缺陷标注方法、装置、电子设备及可读存储介质

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自动化缺陷标注方法、装置、电子设备及可读存储介质
申请号:CN202510219190
申请日期:2025-02-25
公开号:CN120198913A
公开日期:2025-06-24
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种自动化缺陷标注方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:基于第一模型对输入参考图像和参考图像掩码的示例,对目标图像分割指定缺陷,得到目标图像预测掩码。再通过多层感知机判断该目标图像预测掩码是否属于真实缺陷,保留属于真实缺陷的部分,实现对目标图像中缺陷的自动化标注。其中,第一模型是在上下文参考分割算法DINOV模型中新增特征编码器得到的,该特征编码器用于提取参考图像与目标图像中缺陷的相似度。该方法可以在不同的工业场景中标注目标图像的缺陷,减少了缺陷标注中背景过杀的问题,同时减少了后续人工检查缺陷标注所需的时间。
技术关键词
缺陷标注方法 编码器 多层感知机 计算机程序代码 电子设备 视觉特征 检查缺陷 图形处理器 标注装置 嵌入特征 解码器 分割算法 中央处理器 图像分割 存储器 指令 网络结构
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