测试指令生成方法、芯片测试方法及装置

本公开提供了测试指令生成方法、芯片测试方法及装置，涉及芯片测试技术领域。该测试指令生成方法的具体实现方案为：获取针对目标线程组中多个线程的初始访存地址、第一访存指令和初始指令参数；基于初始指令参数、多个线程的初始访存地址和随机生成的地址偏移信息，生成第二访存指令；以及响应于确定多个线程中的至少两个线程在同时执行第一访存指令和第二访存指令时会出现异常，在第一访存指令与第二访存指令之间配置同步指令，以生成用于测试芯片的测试指令；同步指令指示了多个线程针对第一访存指令和第二访存指令的执行顺序。