生成测试用例的方法、装置、电子设备及存储介质

本公开提出一种生成测试用例的方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片验证技术领域。包括：确定被测对象对应的候选用例集合及检查项集合；确定候选用例集合中候选用例对应的第一检查项，根据检查项集合，及候选用例对应的第一检查项，从候选用例集合中，确定被测对象对应的目标用例集合，其中，目标用例集合对应的覆盖率满足目标覆盖率。由此，可以在对被测对象进行验证之前，基于每个候选用例对应的第一检查项及预设的检查项集合，从大量候选用例中，筛选出覆盖率满足需求，且数量较少的目标用例，从而可以尽量避免用例冗余，进而在利用目标用例集合，对被测对象进行验证的时候，可以提高验证效率。