一种多层级覆盖率收集系统

本申请涉及芯片验证技术领域，特别是涉及一种多层级覆盖率收集系统，该系统通过预设验证时长来确定是否需要针对未收集满覆盖率的模块使用其他验证方式来更新覆盖率，避免了深层模块的覆盖率收集耗时过长而导致整体芯片验证的效率下降，且通过当前模块的模块复杂度和预设验证环境的验证环境复杂度，选择合适的验证方式对当前模块进行覆盖率更新，从而提高了深层模块覆盖率收集的灵活性和可靠性，也有效提高了深层模块覆盖率收集的效率，使得能够快速收集深层模块的覆盖率，从而提高了芯片验证的效率。