一种量测数据校正能力计算方法、系统、电子设备及存储介质

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一种量测数据校正能力计算方法、系统、电子设备及存储介质
申请号:CN202510225130
申请日期:2025-02-27
公开号:CN120182036A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种量测数据校正能力计算方法、系统、电子设备及存储介质,包括:获取历史量测误差数据;根据当前时刻的量测误差数据,在历史量测误差数据的基础上,动态更新量测误差方差矩阵;基于更新后的量测误差方差矩阵,采用多项式混沌展开算法,计算得到各量测量的残差及对应的概率分布;基于各量测量的残差及对应的概率分布,通过抽样和权重,得到加权误差熵;将加权误差熵放入监测系统中,实现量测数据校正能力的量化评价。本发明在保证量测冗余度的同时提升整体数据质量,从而提升状态估计的估计精度和鲁棒性。
技术关键词
能力计算方法 量测误差 校正 多项式 动态更新 矩阵 监测系统 网络拓扑信息 概率密度函数 数据 电子设备 动态误差 统计特征 程序 监测模块 冗余度 算法 电力系统
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