基于人工智能的电子元器件表面缺陷检测方法及系统

本发明实施例涉及缺陷检测技术领域，具体公开了基于人工智能的电子元器件表面缺陷检测方法及系统。本发明实施例通过对多个电子元器件样本进行拍摄，且获取样本标记信息；构建缺陷检测模型；进行验证，生成优化检测模型；实时获取检测拍摄图像；导入优化检测模型中，生成并展示缺陷检测结果。能够对多个电子元器件样本处理，训练构建缺陷检测模型，并在模型验证时段，对缺陷检测模型进行验证与优化，生成优化检测模型，进而实时获取检测拍摄图像，进行实时的缺陷检测，生成并展示缺陷检测结果，从而能够在电子元器的生产加工过程中，进行实时的表面缺陷检测，无需开辟单独的缺陷检测流程，有效缩短了电子元器的生产加工时间，降低了生产成本。