一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法

本发明涉及芯片探针测试技术领域，具体为一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法，测试设备包括有探测机主体，探测机主体上安装有吸附定位芯片的平台，平台上方环设有多个探针器，且平台上方还安装有用于驱动探针器空间移动的位置调节器，探针器包括有探针根组和V型探针，传统技术中探针单次与芯片接触来完成探测，测试的数据结果准确无法保证，而同一个探针对芯片多次接触测试，如果探针本身有问题，多次测试的数据全部错误，因此本发明采用多个V型探针轮流接触芯片来进行多次测试，通过分析多个数据来确认正确数据，同时可以排查出有问题的V型探针，进而及时更换V型探针，确保后续的芯片探测工作正确进行。