一种基于图像特征增强的PCB表面微小缺陷检测方法

本发明公开了一种基于图像特征增强的PCB表面微小缺陷检测方法，具体为：获取PCB缺陷图像，对缺陷图像类别进行标注；基于RT‑DETR模型的PCB缺陷检测算法优化，改进为Lite‑DETR；采用PCB缺陷图像训练集对改进后的算法模型进行训练；将缺陷图像测试集传入训练好的模型中，记录检测结果并评价模型性能。本发明能够有效平衡准确性与模型复杂度，为复杂工业环境中的PCB表面微小缺陷检测提供可靠解决方案。