基于社区划分与贪心优化的集成电路测试集生成方法

本发明提出了一种基于社区划分与贪心优化的集成电路测试集生成方法，属于集成电路测试技术领域。该方法通过构建故障关联矩阵量化故障间的逻辑关联性，结合改进的Louvain社区划分算法将故障集划分为高内聚性社区，并基于社区结构与贪心策略生成最小化测试集。其核心特征包括：1)通过门级电路解析构建故障关联矩阵，定义高、中、低三级关联性权重；2)动态调整社区划分的分辨率参数，适应不同规模电路的拓扑特征；3)采用两阶段测试集生成策略，优先覆盖社区内高权重故障，结合贪心算法全局优化。本方法在ISCAS85基准电路上的实验表明，测试集规模较传统贪心算法减少35％‑48％，显著降低测试成本。