芯片的下挂设备测试方法、装置、设备及存储介质

本申请公开了一种芯片的下挂设备测试方法、装置、设备及存储介质，涉及计算机技术领域，包括：读取预设芯片的下挂设备信息；根据下挂设备信息确定预设芯片中已连接下挂设备的一个或多个端口；响应于用户对一个或多个端口的选择操作，确定各待测试端口；对各待测试端口的下挂设备进行测试，以生成对应的测试文件夹；从各测试文件夹中提取对应的测试数据，并根据测试数据生成测试报告；输出各下挂设备对应的测试报告，通过选择各待测试端口，并自动对各待测试端口的下挂设备进行测试，无需人工切换相应的下挂设备，使得提高了下挂设备的测试效率。