电子元器件的调试方法、系统、电子设备及存储介质

本公开提供一种电子元器件的调试方法、系统、电子设备及存储介质。应用于电子元器件的测试程序调试系统；所述系统包括试验层、通讯层和服务层；所述试验层包括物理试验间和虚拟试验间；所述通讯层包括服务器；所述服务层包括用户端；所述方法包括：物理试验间采集电子元器件以及测试设备的实际数据，并将实际数据发送至通讯层；通讯层通过服务器将实际数据发送至虚拟试验间；虚拟试验间根据实际数据生成电子元器件以及测试设备的数字孪生模型，并将数字孪生模型发送至通讯层；通讯层通过服务器将数字孪生模型发送至用户端；用户端根据接收到的调试指令，通过数字孪生模型对电子元器件进行调试。