基于多软件协同的双极型器件γ辐照损伤模拟与评估系统

本发明公开了基于多软件协同的双极型器件γ辐照损伤模拟与评估系统，涉及半导体的辐射效应技术领域，其技术方案要点是：包括以下模块：辐照试验模块、实验参数确定模块、Geant4模拟模块、Sentaurus TCAD建模模块、损伤模型集成模块、参数优化模块、电路仿真模块。本发明通过集成Geant4、Sentaurus TCAD软件，提供了一个全面的双极型器件γ辐照损伤模拟与评估系统。该系统能够准确预测器件在低剂量率γ辐照下的性能变化，深入理解损伤机理，节省试验资源，为抗辐射加固和可靠性设计提供科学依据，推动技术创新，提高器件可靠性，并优化设计和应用。