一种存储器件多工位单粒子效应通用测试系统、方法及电子设备

本申请提供一种存储器件多工位单粒子效应通用自动测试系统，包括：真空罐，真空罐内设有多个安装有待测芯片的测试板，且测试板依次堆叠设置，真空罐用以模拟空间辐射环境；测试设备，包括主控制器、电源模块和扩展槽位，主控制器连接所述测试板，并按照预设的顺序依次向多个测试板传输测试信号；电源模块连接测试板，用以为测试板供电、监测被测芯片的电压和电流以及对被测芯片进行过流过压保护；扩展槽位连接外部硬件资源，以使测试设备具有扩展性；控制平台，连接所述主控制器，用以向主控制器发出测试指令；测试系统能够在短时间内自动完成大量待测芯片的测试，同时保证测试结果的准确性和一致性，大大提高了测试效率和测试准确率。