芯片测试装置及系统

本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试装置及系统，芯片测试装置的拾取单元包括连接在驱动单元上且与每一测试座相对应的板体、连接在板体一侧的吸附件以及连接板体的第一激光发射器，测试座上设有位于芯片放置区之外且与第一激光发射器相对应的光敏电阻，以及罩设于光敏电阻上方的光罩；当控制器控制驱动单元将拾取单元位移至测试座上方后，若在预设时间内，光敏电阻受第一激光发射器作用而反馈触发信号至测试座，测试座传输感光结果至控制器，则控制器控制驱动单元将拾取单元朝向测试座下降，以及吸附件将待测芯片对应放置于测试座的芯片放置区。本申请提高芯片测试的可靠性。