一种基于老化测试的芯片测试设备及方法

本发明涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种基于老化测试的芯片测试设备及方法；本发明的一种基于老化测试的芯片测试设备，包括：机体、测试板和测试座；芯片封装在所述测试座内；所述机体内设置有温控模块；所述温控模块能够对机体内进行加热和保温；所述测试板上设置有接口；所述测试座通过所述接口与所述测试板相连接；本发明通过在机体内设置竖直移动块、横向移动块和纵向移动块带着安装块和电动夹具移动，再通过电动夹具夹持住测试座，将测试座从测试板上拔出，随后将旧的测试座放置在取放台上，夹持住新的测试座，再将新的测试座安装到测试板上的接口上，从而完成在测试过程中，更换不合格的芯片。