一种电源芯片测试系统

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一种电源芯片测试系统
申请号:CN202510266377
申请日期:2025-03-07
公开号:CN120028678A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种电源芯片测试系统,涉及电源芯片检测技术领域,包括安装台以及安装台上转动连接的支撑轴,所述支撑轴的外表面固定连接有安装盘,测试控制机构,所述测试控制机构设置在安装台上,该一种电源芯片测试系统,通过将电源芯片自动上料到夹持检测机构上,随后夹持检测机构对电源芯片进行夹持固定,随后通过安装盘带动夹持的芯片转动到测试控制机构位置,随后测试控制机构通过控制箱将电源芯片进行罩住,随后对电源芯片外表面的周围环境进行均匀充分的加热,使其模拟在真实的工作环境中,同时可以对电源芯片进行施加压力,随后对电源芯片进行测试,大大提高了对电源芯片测试的精准度,提高了对电源芯片测试的效果。
技术关键词
电源芯片测试系统 夹持检测机构 控制箱 安装台 安装盘 传动轴 加热机构 检测板 锥齿轮 真空吸盘 导向杆 联轴器 机械臂 橡胶密封圈 热风 电加热丝 柔性 输出端
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