芯片测试参数温度补偿及质量评估方法

本发明提供一种芯片测试参数温度补偿及质量评估方法，涉及芯片测试技术领域。本发明通过相关运算确定温度及其他因素与待测参数的关系，利用拟合回归的数据处理方法，精确补偿温度对待测参数的影响，为后续质量评估预测模型的训练提供准确数据，从而提高质量评估的准确性、可靠性和效率。