摘要
提供了一种时钟控制电路、芯片及电子设备,属于芯片测试技术领域。该时钟控制电路包括时钟控制模块、测试控制模块和逻辑处理模块。由于逻辑处理模块能够在测试控制模块输出的指示信号指示对连接的功能模块进行测试的情况下,使能时钟控制模块输出的脉冲时钟信号输出至该功能模块,且能够在测试控制模块输出的指示信号指示对连接的功能模块不进行测试的情况下,禁止时钟控制模块输出的脉冲时钟信号输出至该功能模块。因此能够可靠的降低测试功耗,提高测试良率。
技术关键词
时钟控制电路
功能模块
时钟控制模块
逻辑处理单元
信号
脉冲
控制单元
芯片测试技术
电子设备
设备主体
多路复用器
模式
数据
反相器
系统为您推荐了相关专利信息
自动化测试方法
控制中心
链路
机器学习模型
故障定位算法
策略
引导机器人
控制机器人行走
正则化方法
算法
等效电路模型
电磁干扰测试
电磁干扰接收机
变压器
芯片
中央控制系统
管理方法
工作站
仓储管理系统
机器人
激光多普勒测振
滑动窗口
相位展开算法
激光测振技术
频率