摘要
本申请涉及一种等效激活能获取方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品。所述方法包括:对电子器件进行应力剖面分析,获得电子器件对应的目标环境参数,并根据目标环境参数构建目标贮存环境,在目标贮存环境中,对电子器件进行长期贮存失效分析,获得目标贮存环境对应的敏感应力,在目标贮存环境下,基于敏感应力对电子器件进行加速贮存试验,获得电子器件对应的单一激活能参数,获取目标贮存环境对应的失效加速系数和应力权重,根据单一激活能参数、所有目标贮存环境对应的失效加速系数和应力权重,获取电子器件的等效激活能。采用本方法能够准确评估电子器件寿命。
技术关键词
电子器件
应力
性能退化模型
参数
计算机设备
可读存储介质
分析模块
计算机程序产品
处理器
存储器
典型
寿命
关系
周期
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数据
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