基于计算机视觉的电子器件检测系统

本发明公开了基于计算机视觉的电子器件检测系统，涉及电子器件自动化检测技术领域。该系统包括图像处理模块、目标检测模块和缺陷识别模块。图像处理模块通过卷积神经网络提取电子器件图像的特征图。目标检测模块通过区域提议网络对特征图进行候选区域生成，并对每个锚框进行二分类分析，输出分类置信度。对于分类为目标的锚框，通过边界回归优化锚框位置和尺寸，并通过非极大值抑制去除冗余锚框，筛选出符合置信度的目标区域。缺陷识别模块对目标区域进行图像块划分，结合自注意力机制进行缺陷类型分类，识别不同的缺陷模式，并对缺陷区域进行边界回归优化，输出缺陷的位置、类型和置信度。能够高效、精确地检测电子器件中的缺陷。