一种基于质量监测信息的智能电子设备程控测试系统

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一种基于质量监测信息的智能电子设备程控测试系统
申请号:CN202510280142
申请日期:2025-03-11
公开号:CN119780589A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电性能、电故障的测试装置;具体来说,涉及一种基于质量监测信息的智能电子设备程控测试系统,该系统包括:收集单元,用于通过多种渠道来源,自动收集质量监测信息,并存储至存储库中;提取处理单元,用于对存储库中的信息进行处理并进行实施特征提取;测试规则生成单元,用于利用提取得到的实施特征设计程控测试规则;连接测试单元,用于将测试规则、智能电子设备分别与测试主机进行连接并进行程控测试;反馈单元,用于收集电子设备每个阶段的测试结果,并将测试结果发送至监控终端进行显示。本发明通过对收集到的质量监测信息进行处理,能够提高测量数据的准确性和可靠性。
技术关键词
程控测试系统 智能电子设备 规则集 特征点 统计特征 像素点 灰度矩阵 处理单元 关联分析算法 监控终端 金字塔模型 序列 分析模块 数据 信号 监测场景 关联算法 构建算法 端口
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