一种利用模拟离子轰击实现GaN功率芯片典型异质界面强化导热的优化设计方法

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一种利用模拟离子轰击实现GaN功率芯片典型异质界面强化导热的优化设计方法
申请号:CN202510280397
申请日期:2025-03-11
公开号:CN120296940A
公开日期:2025-07-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于离子轰击石墨烯提高氮化铝/石墨烯/碳化硅界面热导的模拟仿真优化设计方法。包括如下步骤:构建层状氮化铝/石墨烯/碳化硅界面模型;提取石墨烯模型;基于分子动力学模拟离子束轰击石墨烯;对轰击后的石墨烯进行模拟退火处理;采用多种轰击条件(如轰击剂量、能量、距离等)得到不同缺陷态石墨烯;重新构建氮化铝/缺陷态石墨烯/碳化硅结构模型;计算界面热导并分析界面声子态;建立离子轰击工艺、界面热导和界面声子态的相关关系;探索离子轰击工艺优化方向;迭代优化实现提升两倍及以上界面热导。
技术关键词
氮化铝 碳化硅结构 界面 优化设计方法 真空层 离子束 范德华力 缺陷石墨烯 模型底部 数据噪声 功率芯片 温度平衡 异质结构 重构 分子 命令
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