一种碳化硅涂层石墨盘的表面缺陷检测方法及系统

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一种碳化硅涂层石墨盘的表面缺陷检测方法及系统
申请号:CN202510286907
申请日期:2025-03-12
公开号:CN120219830A
公开日期:2025-06-27
类型:发明专利
摘要
本发明涉及涂层材料及检测技术领域,具体为一种碳化硅涂层石墨盘的表面缺陷检测方法及系统;对石墨盘表面进行多维图像数据采集;通过自适应多尺度卷积神经网络进行噪声去除,并结合图像梯度约束保留细节和边缘信息;利用图像增强技术恢复高频细节,且通过深度学习的空间变换网络进行几何校正,确保数据一致性;引入认证权限序列,确保图像数据的真实性和总括性;通过采用改进YOLOv9模型,引入注意力机制增强对目标特征的提取能力,并结合Soft‑NMS算法优化定位框,解决重叠检测问题,且用SCM模块替代传统卷积层;实时反馈检测结果,生成详细检测报告并提供决策支持。本发明提高了碳化硅涂层石墨盘表面缺陷检测的精度与效率。
技术关键词
表面缺陷检测方法 碳化硅涂层 多尺度卷积神经网络 石墨盘表面 sigmoid函数 空间变换网络 图像增强技术 Sobel边缘检测 序列 表面缺陷检测系统 噪声 去噪方法 多维图像数据 抑制背景干扰 引入注意力机制 分支 原始图像数据
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