一种通用的缺陷点聚集性检测方法及系统

本发明提供了一种通用的缺陷点聚集性检测方法及系统，涉及智能制造与人工智能领域，所述方法流程为：对面板数据进行预处理；使用缺陷点聚类算法对预处理的面板数据进行聚类处理，以获取若干缺陷点簇；从基本位置和基本形状两个维度对每个缺陷点簇进行分析判断，以获取每个缺陷点簇的基本位置和基本形状的类别标签；将每个缺陷点簇的基本位置和基本形状的类别标签转换映射到自定义的缺陷类别名称，以判定每个缺陷点簇最终的缺陷类别名称。本发明从基本位置和基本形状两个独立维度对缺陷点聚集情况进行分析，解决了现有技术无法智能化实现工业面板缺陷点聚集性检测，并且缺陷点聚集性检测缺乏通用性、泛化性、鲁棒性以及灵活性的问题。