一种非均匀稀疏采样单切面近场测试系统及方法

本发明公开了一种非均匀稀疏采样单切面近场测试系统及方法，属于测试技术领域。本发明以矩阵形式表达单切面辐射场，并通过逆矩阵方法从该线性方程组求解未知传输系数，克服了传统的基于快速傅里叶变换的单切面近场测试方法对近场样本分布均匀性的依赖；在天线传输系数具有稀疏性的假设下，引入压缩感知技术，对传输系数向量q施加L1范数最小化约束以保证其稀疏性，在单切面近场样本数量M小于未知系数数量J的情况下，可从欠定线性方程组求解传输系数；本发明实现了基于非均匀采样的单切面近场测试方法，增加了采样方式的灵活性；减少了采样点数及扫描时间，提高了测试效率；具有更高的远场重构精度。