一种MCU自检覆盖率优化系统与方法

本公开涉及MCU自检技术领域，公开了一种MCU自检覆盖率优化系统与方法，其中：核心MCU模块，作为控制中心；自检电路模块，用于根据检测指令，对核心MCU模块中的核心硬件组件进行检测，发送至核心MCU模块；传感器模块，用于实时采集核心MCU模块的物理参数，发送至核心MCU模块；故障诊断模块，用于分别根据支持向量机算法与预设神经网络算法，确定当前故障模式，还用于根据预设神经网络算法，预测可能性故障；核心MCU模块，生成自检报告。本公开实施例提供的系统预测性维护单元通过神经网络算法，预测检测结果与物理参数对应的未来可能出现的故障，避免仅在故障发生后进行处理，实现提前预警，提高自检覆盖率，从而提高系统的安全性和稳定性。