一种灾后复杂环境中电子设备损伤预测方法及装置

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一种灾后复杂环境中电子设备损伤预测方法及装置
申请号:CN202510295643
申请日期:2025-03-12
公开号:CN120217858B
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种灾后复杂环境中电子设备损伤预测方法及装置。利用幂律型环境综合应力模型和电子设备的维纳退化模型构建加速退化模型,该加速退化模型表征电子设备在环境综合应力下的加速退化过程;基于加速退化过程构建融合幂律型环境综合应力模型和数据驱动模型的平均寿命预测模型;根据电子设备的历史加速退化数据集,基于粒子群算法PSO求解加速退化模型的待定参数的目标估计值,根据目标估计值,基于平均寿命预测模型确定电子设备在环境综合应力下的损伤预测值,损伤预测值包括平均寿命预测值。考虑损伤性环境中多种环境因素对寿命预测的影响,通过粒子群算法优化后的加速退化模型,提高平均寿命预测模型的精度和可靠性。
技术关键词
加速退化模型 加速退化数据 损伤预测方法 数据驱动模型 应力 损伤预测装置 参数 表征电子设备 子模块 累积分布函数 粒子群算法优化 非线性 预测误差 速度 可读存储介质
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